Two-sample tests based on cumulative incidence functions from coherent systems
基于相干系统累积发生函数的两样本检验AI 解读 ↓
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分类依据与纠错
AI 根据所提供的论文材料归类：摘要研究可靠性系统的删失寿命检验，组件依赖不等同于所列网络与干扰或经济分布效应。
反馈分类问题正在核对关联版本…
代码、数据与补充材料
正在核对对应版本的资源…
基于相干系统累积发生函数的两样本检验
- 研究问题
- 两种环境下，相干系统失效使部分组件寿命被删失时，如何检验组件寿命联合分布相同，而不要求组件相互独立？
- 方法与思路
- 作者利用系统失效前观察到的组件失效和系统失效时点，基于组件累积发生函数构造一类两样本检验。
- 材料陈述的贡献
- 摘要称，检验不需组件独立或已知系统结构函数，统计量渐近服从自由度等于组件数的卡方分布，并有模拟考察。
- 阅读关注点
- 应核对系统失效删失下累积发生函数如何估计、检验对联合分布差异的识别范围，以及卡方近似和功效的条件。
- 阅读边界
- 仅据版本未注明的 OpenAlex 索引摘要，不能推断刊本变化；模拟仅涉及某些相干结构，摘要未说明对任意联合分布差异的检验能力。
原文摘要
Suppose that n1 and n2 independent copies of a coherent system composed of m components operate in two different environments. All copies are monitored until their failure. The data consist of the lifetimes of all the components which fail before the system and the time to failure of the system which also is the censoring time for the components not yet failed. In this paper we propose a class of tests based on the incidence functions of the component failures obtained from the above data for the equality of the joint distributions of the component lifetimes without assuming either the independence of the components within a system or the knowledge of the structure function of the system. The test statistics have asymptotically a chi-squared distribution with m degrees of freedom. Results of some simulation studies exhibit the closeness of the approximation of the null distribution and the power of these tests for certain coherent structures.