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分类依据与纠错

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Kenneth W. Fertig
Nancy R. Mann

小批量计量抽样方案的预测区间方法:高斯过程下的一次抽样

研究问题
在正态生产过程的小批量验收中,如何设计计量抽样方案,使被接受批次以高概率没有超过单侧规格限的缺陷?
方法与思路
作者用预测区间推导有限批次的计量抽样方案,考察批量为五至七十的情形,并提供按批量和可接受质量水平选样本量的表。
材料陈述的贡献
摘要称该方案使接受批次以高概率零缺陷,并相较可比的超几何抽样方案显著节省样本量,但未提供具体节省幅度。
阅读关注点
应核对零缺陷概率的定义、预测区间如何转化为验收规则,以及与超几何方案比较时质量水平和风险是否保持一致。
阅读边界
OpenAlex 摘要未注明稿件版本,且方法明确假设正态过程;未说明非正态稳健性、具体概率水平或节省样本量的数值。

原文摘要

A prediction-interval approach is used to derive variables sampling plans applicable to finite lots. A normally distributed process is assumed, and lots ranging in size from 5 to 70 are considered. The plans are such that, with high probability, accepted lots will have zero defects (defined in terms of one-sided specification limits). Further, tabulations provide information which is useful for selecting sample size for a specified combination of lot size and acceptable quality level. Substantial savings in sample size can be achieved by using variables plans in place of the comparable hypergeometric sampling plans.

笔记与分组
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