Asymptotic Efficiencies of Sequential Tests II
序贯检验的渐近效率(二)AI 解读 ↓
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An asymptotic expression is given for the $\log$ error probability of a sequential test based on a random walk. This may be used to compute limiting relative efficiencies of such tests. The results are illustrated for the one-sided normal testing problem with an asymptotic Bayes test due to Schwarz. Some numerical comparisons are given for five sequential tests of a normal mean.