A modified score test statistic having chi-squared distribution to order n −1
具有高阶卡方近似的修正得分检验统计量AI 解读 ↓
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分类依据与纠错
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反馈分类问题正在核对关联版本…
代码、数据与补充材料
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具有高阶卡方近似的修正得分检验统计量
- 研究问题
- 如何修正一般得分检验统计量，使其零假设分布获得更精确的卡方近似，并为其他渐近卡方统计量构造Bartlett类型校正？
- 方法与思路
- 作者利用全样本对数似然导数的联合累积量构造修正得分统计量，并给出改善渐近卡方检验统计量的Bartlett类型校正公式。
- 材料陈述的贡献
- 摘要称，论文给出一般修正得分统计量及其高阶卡方近似结果，同时推导通用校正公式并讨论若干应用，但未列出具体案例。
- 阅读关注点
- 应查阅原文确认所述近似误差阶数、累积量表达式及正则条件，并核对干扰参数处理和各应用中校正项的计算方式。
- 阅读边界
- 这是稿件版本未注明的OpenAlex索引摘要；误差阶数的上下标需原文核对，摘要也未说明有限样本改善幅度或计算要求。
原文摘要
We give a general modified score test statistic whose nuil distribution is chi-squared to order n−1, where n is the sample size. The modified statistic depends on the joint cumulants of log likelihood derivatives for the full data. Some applications are discussed. Following Cox & Reid (1987a) we also derive a general formula for Bartlett-type corrections to improve test statistics whose null asymptotic distributions are chi-squared.