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分类依据与纠错

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S. G. MEESTER
R. A. LOCKHART

多区组设计中的正态误差检验

研究问题
当实验设计中拟合参数很多,甚至随样本量线性增长时,如何检验同方差正态误差假设并确定有效的渐近临界值?
方法与思路
作者分析标准化残差经验过程的协方差展开,在单因素布局下建立弱收敛,并为三类拟合优度统计量提供渐近临界值。
材料陈述的贡献
摘要称,为 Cramér–von Mises、Watson 和 Anderson–Darling 检验提供临界值,并以蒙特卡洛研究辅助表格使用。
阅读关注点
应核对区组规模与参数增长的限制、残差标准化方式、弱收敛结论的适用设计,以及模拟对临界值使用的支持程度。
阅读边界
仅据版本未注明的 OpenAlex 索引摘要;具体设计条件、临界值和模拟结果未提供,不能判断有限样本表现或刊本变化。

原文摘要

Goodness-of-fit tests are provided for the assumption of homoscedastic normal errors in experimental designs where the number of fitted parameters is large. Asymptotic critical points are given for the Cramér-von Mises statistic, Watson's statistic and the Anderson-Darling statistic. An expansion of the covariance function of the empirical process of standardized residuals is given. The corresponding weak convergence result is established for one-way layouts when the number of parameters grows linearly with the sample size. A Monte Carlo study is given to aid in the use of the tables.

笔记与分组
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