Two-Sample Tests Based on Cumulative Incidence Functions from Coherent Systems
基于相干系统累积发生函数的两样本检验AI 解读 ↓
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分类依据与纠错
AI 根据所提供的论文材料归类：摘要研究可靠性系统中组件寿命的两样本检验，组件依赖本身不足以归入经济网络与干扰方向。
反馈分类问题正在核对关联版本…
代码、数据与补充材料
正在核对对应版本的资源…
基于相干系统累积发生函数的两样本检验
- 研究问题
- 系统失效导致尚未失效的组件寿命被删失时，如何比较两个环境下组件寿命的联合分布，并允许系统内组件相互依赖？
- 方法与思路
- 作者利用系统失效前的组件寿命及系统失效时间构造组件累积发生函数检验，不要求组件独立或已知系统结构函数。
- 材料陈述的贡献
- 摘要称，检验统计量渐近服从自由度等于组件数的卡方分布，模拟展示了部分系统结构下的零分布近似和检验功效。
- 阅读关注点
- 应核对累积发生函数与联合分布零假设的联系、系统诱导删失的处理，以及卡方极限的条件和模拟覆盖的备择类型。
- 阅读边界
- 仅据版本未注明的 OpenAlex 索引摘要，不能判断检验能否识别所有联合分布差异，也无法确定有限样本校准和功效水平。
原文摘要
Suppose that n1 and n2 independent copies of a coherent system composed of m components operate in two different environments. All copies are monitored until their failure. The data consist of the lifetimes of all the components which fail before the system and the time to failure of the system which also is the censoring time for the components not yet failed. In this paper we propose a class of tests based on the incidence functions of the component failures obtained from the above data for the equality of the joint distributions of the component lifetimes without assuming either the independence of the components within a system or the knowledge of the structure function of the system. The test statistics have asymptotically a chi-squared distribution with m degrees of freedom. Results of some simulation studies exhibit the closeness of the approximation of the null distribution and the power of these tests for certain coherent structures.