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关注这篇论文的作者
F. T. Wright
Max Engelhardt
Lee J. Bain

Ⅰ型删失抽样下双参数指数分布的统计推断

研究问题
样本在固定值处删失时,如何对指数分布的位置与尺度参数进行推断,有放回与无放回情形的检验性质有何差别?
方法与思路
作者讨论固定删失值下的位置与尺度参数推断程序,并分别考察摘要所称有放回和无放回检验情形中的表现。
材料陈述的贡献
摘要称,有放回情形下所讨论检验具有一致最强无偏性质;对无放回情形,则仅表示这些程序似乎较为合理。
阅读关注点
应核对抽样与删失机制、有放回检验的具体含义、原假设及备择集合,并确认最优性成立的参数范围和条件。
阅读边界
仅据 OpenAlex 索引摘要,稿件版本未注明;检验构造和条件均未说明,无放回情形的合理性不能视为已证明的最优性。

原文摘要

Inferences concerning the location and scale parameters of an exponential distribution are discussed for samples censored at a fixed value. The procedures considered are uniformly most powerful unbiased if the tests are performed with replacement and they seem to be quite reasonable when testing without replacement.

笔记与分组
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