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分类依据与纠错

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Yixiao Sun
Sainan Jin

幂核异方差与自相关稳健检验的检验力最大化和尺寸控制

研究问题
在采用幂核的异方差与自相关稳健 t 检验中,如何选择幂参数和临界值,使尺寸得到控制并减少第二类错误?
方法与思路
作者比较固定幂参数与大幂参数渐近分布,分析二阶校正临界值,并提出以控制第一类错误为约束的幂参数选择和代入实施程序。
材料陈述的贡献
摘要称,固定参数近似更贴近有限样本分布,校正临界值具有二阶性质;模拟中,新方法兼顾尺寸准确性与较少的检验力损失。
阅读关注点
应核对检验最优性的备择与约束定义、渐近展开条件、代入量估计,以及模拟比较是否采用相同尺寸和一致的参数选择规则。
阅读边界
仅据所给 Crossref 摘要,无法确认最优参数公式、具体误差阶和性能数值;所述模拟优势不能视为普遍支配,刊本变化未说明。

原文摘要

Using the power kernels of Phillips, Sun, and Jin (2006, 2007), we examine the large sample asymptotic properties of the t -test for different choices of power parameter ( ρ ). We show that the nonstandard fixed- ρ limit distributions of the t -statistic provide more accurate approximations to the finite sample distributions than the conventional large- ρ limit distribution. We prove that the second-order corrected critical value based on an asymptotic expansion of the nonstandard limit distribution is also second-order correct under the large- ρ asymptotics. As a further contribution, we propose a new practical procedure for selecting the test-optimal power parameter that addresses the central concern of hypothesis testing: The selected power parameter is test-optimal in the sense that it minimizes the type II error while controlling for the type I error. A plug-in procedure for implementing the test-optimal power parameter is suggested. Simulations indicate that the new test is as accurate in size as the nonstandard test of Kiefer and Vogelsang (2002a, 2002b), and yet it does not incur the power loss that often hurts the performance of the latter test. The results complement recent work by Sun, Phillips, and Jin (2008) on conventional and b T HAC testing.

笔记与分组
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