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分类依据与纠错

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关注这篇论文的作者
A. N. PETTITT

删失样本正态性检验的 Cramér–von Mises 统计量

研究问题
对于存在删失的样本,Cramér–von Mises 拟合优度统计量具有怎样的渐近分布,又如何取得正态性检验所需的临界值?
方法与思路
作者为删失样本的拟合优度统计量建立渐近分布理论,并提供渐近分位点及用于正态性检验的小样本蒙特卡洛分位点。
材料陈述的贡献
摘要明确报告删失情形下的渐近理论及两类检验分位点,为实施正态性检验提供依据,但未陈述功效或方法优势。
阅读关注点
应核对删失类型与机制、正态分布参数是否需要估计,以及临界值表对应的样本量、删失程度和统计量定义。
阅读边界
依据稿件版本未注明的 OpenAlex 索引摘要;删失设定、参数处理及分位点数值未提供,不能直接据此实施检验。

原文摘要

Asymptotic theory is developed for the distribution of Cramér-von Mises statistics for testing the goodness of fit of censored samples. Asymptotic percentage points are given and also small-sample Monte Carlo percentage points for testing for normality.

笔记与分组
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