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分类依据与纠错

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Pranab Kumar Sen

渐进删失检验中若干分位数过程的弱收敛

研究问题
渐进删失检验中,由次序统计量函数及随机系数组成的分位数过程能否获得弱收敛结果,并用于构造序贯检验?
方法与思路
作者研究该类分位数过程向适当高斯过程的弱收敛,将极限结果用于一般参数及非参数情形下的时间序贯检验。
材料陈述的贡献
摘要称论文将随机系数下的次序统计量组合纳入弱收敛分析,并把相应高斯极限用于适合渐进删失的序贯检验。
阅读关注点
应核对渐进删失方案、随机系数的限制、过程收敛所用空间,以及极限过程如何确定序贯检验边界与误差控制。
阅读边界
仅据版本未明的 OpenAlex 索引摘要;收敛条件、检验规则及有限样本表现未说明,不能推断所有删失方案均适用。

原文摘要

For progressive censoring schemes pertaining to a general class of (parametric as well as nonparametric) testing situations, one encounters a (partial) sequence of linear combinations of functions of order statistics where the coefficients are themselves stochastic variables. Weak convergence of such a quantile process to an appropriate Gaussian function is studied here, and the same is incorporated in the formulation of suitable (time-) sequential tests based on these quantile processes.

笔记与分组
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